10月15日~18日，由合肥工业大学电子科学与应用物理学院/微电子学院主办第27届IEEE亚洲测试学术会议(IEEE 27th Asian Test Symposium，简称ATS’2018)及第19届IEEE寄存器传输级及高层测试国际研讨会(简称WRTLT’2018)在合肥召开。党委副书记、校长梁樑在大会上致开幕词，并向与会代表介绍了学校近年来的发展情况。

IEEE ATS国际会议于1992年由中国和日本的学者联合发起，此后每年举办一次，历年来多选在亚洲地区召开，至今已在中国大陆、日本、印度、中国台湾等地召开了26次年度会议。ATS是IEEE在亚洲地区召开的测试领域国际性学术会议，主要关注于国际上电路系统测试、芯片测试、器件测试技术在学术研究及工业应用中的前沿的研究成果，并已拓展到机器学习、电路可靠性和硬件安全等相关研究方向。随着以中国大陆、台湾、日本和韩国为代表的亚洲集成电路产业的迅速发展和崛起，ATS逐渐受到越来越多的学术界和工业界的关注和重视。IEEE WRTLT国际研讨会在2000年由中国和日本学者共同发起，探讨高层的测试技术，也是每年一届，和IEEE亚洲测试学术会议联合召开。

本次ATS’2018和WRTLT’2018会议共吸引了200余位国际、国内专家学者参加，其中来自中国大陆60余位，来自美国和日本30余位，其余的参会者分别来自德国、法国、印度、加拿大、中国台湾和中国香港等国家和地区。全球领先的IC企业（Mentor、Synopsys、Cadence、Advantest、NI、ARM、华为等)等均派员参会。

大会主席、我校电子科学与应用物理学院/微电子学院梁华国教授在开幕式上致欢迎词，国际著名专家Prof. Mark M. Tehranipoor、Dr. Yervant Zorian和Dr. Xinli Gu做大会特邀报告。

本次会议为测试领域的国内外学术界和企业界交流讨论提供了有效的平台，展现了中国学者在集成电路测试领域的国际影响力，对于促进世界尤其是亚洲地区电子测试技术的研究和发展有重要意义。