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Ducharne Benjamin 教授学术报告信息二则
发布日期:2019-03-15  字号:   【打印

  Ducharne Benjamin 教授

工作单位美国普渡大学

举办单位:机械工程学院

报告人简介

Benjamin Ducharne,2001年毕业于法国Claude Bernard Lyon大学电气工程专业(硕士学位),2003年获得电气工程博士学位。2004年,他的博士后研究主要是在比利时Montefiore研究所对磁路模型的数值进行有限元分析,并获得了里昂国家科学院(INSA)副教授的职位。目前(2019-2020年)是普渡大学(美国印第安纳州)的访问学者和中期讲师。他已经发表了50多篇国际科学论文,主要研究方向是材料表征、磁滞模型、微磁无损检测和智能材料中的多物理耦合。

学术报告信息(一)

报告题目:分数阶微积分(Fractional derivation)方法在磁滞模型中的应用

报告时间:2019年3月18日(星期一)15:00-17:00

报告地点:机械楼2楼学术报告厅

报告简介

对于磁滞现象,空间离散模型给出了非常精确的结果。然而由于磁滞现象的高度非线性,往往在计算中产生不确定收敛,从而导致不稳定误差。并且,空间离散化模型需要大量的计算机内存,这种模拟总是非常耗时。通过一种区域模型(LumpModel)开发出一种基于分数阶微积分方法的独特替代技术,能够有效模拟磁滞现象。由于模型采用了分数阶微分算子,使得在大频率带宽上获得了非常精确的模拟结果。

学术报告信息(二)

报告题目:微磁技术(Micro-magnetic NDT)在无损检测与评估中的应用

报告时间2019年3月19日(星期二)9:00-11:00

报告地点:机械楼2楼学术报告厅

报告简介

对于无损检测与评估来说,大量的微磁无损检测方法可供选择,如永磁检测、磁巴克豪森噪声检测、涡流检测和增量磁导率(MIP)法等,这些检测方法依赖传感器对局部磁特性的测量,但传感器的定位和扫描方向仅限于检测平面的平行面,这会抑制方向性信息。为了克服方向性问题,提出了针探头法。利用这种方法,可以测量局部磁矢量特性,为磁定量评价提供了新的自由度。

  
编辑:徐小红
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